Optical-electrical properties and thickness analysis of TiO2 thin films obtained by magnetron sputtering

Autores		Feitor, Michelle Cerqueira; S. Sobrinho, V. S.; Miranda Neto, José Queiroz de; Lima, L. L. F.; Souza, Iedo A; Libório, Maxwell Santana; Queiroz, José César Augusto de; Sousa, Rômulo Ribeiro Magalhães de; Almeida, Érika Oliveira de; Costa, Thércio Henrique de Carvalho
Editor		Springer Science and Business Media LLC
Data		2020-09-23
Palavras-chave		Thin films Magnetron sputtering Swanepoel method PUMA Transmittance
Citação		S. SOBRINHO, V. S.; M. NETO, J.Q.; LIMA, L.L.F.; SOUZA, I.A.; LIBÓRIO, M.S.; QUEIROZ, J.C.A.; SOUSA, R.R.M.; ALMEIDA, E.O.; FEITOR, M.C.; COSTA, T.H.C.. Optical-Electrical Properties and Thickness Analysis of TiO2 Thin Films Obtained by Magnetron Sputtering. Brazilian Journal of Physics, [S.l.], v. 50, n. 6, p. 771-779, 23 set. 2020. Disponível em: https://link.springer.com/article/10.1007%2Fs13538-020-00794-3. Acesso em: 14 abr. 2021. http://dx.doi.org/10.1007/s13538-020-00794-3.
Resumo
URI		https://repositorio.ufrn.br/handle/123456789/45566

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